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テーマは「必要性 /欲求」:第6回 東京国際写真コンペティション 応募作品受付中

第6回 東京国際写真コンペティション 応募作品受付中

T3 PHOTO FESTIVAL TOKYO(2017)会場でのグランプリ作家の展示風景
展示設計:平井政俊 © Kenta Hasegawa

Singapore International Photography Festival(2016)会場での巡回展の様子

この度、TOKYO INSTITUTE OF PHOTOGRAPHYは、United Photo Industries(ニューヨーク・米国)の協力のもと、第6回目となる東京国際写真コンペティション(TIPC)の応募作品の募集を開始しました。

TIPC Webサイト
https://jp.tokyophotocompetition.com

東京国際写真コンペティション(TIPC)の目的はその設立より、文化および地理をまたぎ、世界の核となる写真コミュニティとの“架け橋”となる事です。
本年は Vogue(イタリア)や、The New Yorker(アメリカ)などのトップマガジンから、アイルランド、マレーシア、台湾のフォトフェスティバルディレクターなど、国際的に活躍する12名からなる審査員が、応募作品より8名の写真家を選出。

受賞作品は、東京、ニューヨーク、台北、ダブリンの4都市にて巡回展示されます。

本コンペのポイント

1.多様かつ、世界トップレベルの審査員が作品を審査
2.世界4ヵ国で受賞者作品を展示
3.発表・未発表作品に限らず応募可能

応 募 概 要

テーマ​:必要性 / 欲求
「必要性(Need)」と「欲求(Want)」の間、そこにある関係性や物語を募集しています。

対  象:全世界の写真家(但し、応募時の年齢が18歳以上)
応募期間:募集中〜2019年2月22日(アメリカ太平洋夏時間23時59分)まで締切
※締め切りが延長になる場合は、その旨を公式Webサイト上にてアナウンス致します。
応募期間延長 2019年3月4日 アメリカ太平洋夏時間23時59分まで

応募費用:1シリーズ(5枚~10枚)につき40米ドル ※1人あたりの応募回数の上限はありません。
応募方法:http://jp.tokyophotocompetition.com/ よりオンライン上からご応募ください。
審査方法:審査員によるポイント制
受賞特典:審査員によって選ばれた写真家の作品は、72 Gallery(東京)、United Photo Industries Gallery(ニュー
ヨーク)、Wonder Foto Day(台北)、PhotoIreland(ダブリン)にて巡回展示予定。

TIPC Webサイト
https://jp.tokyophotocompetition.com

夏期限定 レンタルギャラリースペース 30%OFFのお知らせ

 

夏期限定!

下記の期間、レンタル展示スペース White Cube / Blue Wallのレンタルが30%OFFになります!
※ ギャラリー図面や料金の詳細はこちら
※ 72ギャラリーは対象ではございません。

 

・08/22〜09/02
・09/05〜09/16
・09/19〜09/30
※ 空き状況はこちら

申し込みはこちらのフォームよりお申込みください。

 

【White Cube利用料金】
通常:一般 108,000円(税込)/10日間

30%OFF → 75,600円(税込)

通常:T.I.P会員・PHaT PHOTO写真教室生徒は 91,800円(税込)
30%OFF → 64,260円(税込)

 

【Blue Wall利用料金】
通常:一般 97,200円(税込)/10日間

30%OFF → 68,040円(税込)

通常:T.I.P会員・PHaT PHOTO写真教室生徒は 82,620円(税込)
30%OFF → 57,834円(税込)

 

【White Cube/Blue Wall 同時利用料金】
通常:一般 172,800円(税込)/10日間

30%OFF → 120,960円(税込)

通常:T.I.P会員・PHaT PHOTO写真教室生徒は 146,880円(税込)
30%OFF → 102,816円(税込)

 

申込はこちらのフォームよりお申込みください。

 

1月13日(土) 貸切営業のお知らせ

1月13日(土)は「NAE-Lab(ナエラボ)」開催の為、貸切営業となります。どなたでもご自由に入場できますが、72 Galleryの作品はご覧いただけません。大変ご迷惑をおかけしますが、ご了承をお願いします。また、各種イベント、ワークショップに関しましては事前に参加登録が必要になります。リンク先をご覧ください。

NAE-Labについてはこちら

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